哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗裝置試驗方法
KTR011抗開裂卷繞試驗裝置試驗方法
1、絕緣熱沖擊試驗
1.1取樣
每個被試絕緣線芯應取兩根適當長度的試樣,試樣應取自兩處,間隔至少為1m。若有外護層的話,應從絕緣上除去。
1.2試樣制備
試樣應按下列三種方法中的一種進行制備:
a)對于外徑不超過12.5mm的絕緣線芯,每一試樣是一段絕緣線芯。
b)對于外徑超過12.5mm,絕緣厚度不超過5.0mm的絕緣線芯和所有的扇形絕緣線芯,每個試樣應取成絕緣窄條,其寬度至少是絕緣厚度的1.5倍,但不小于4mm。
窄條應沿絕緣線芯的軸線方向切取,如果是扇形絕緣線芯,應在絕緣線芯的“背部”切取。
c)對于外徑超過12.5mm,絕緣厚度超過5.0mm的絕緣線芯,每個試樣應按b)規(guī)定切取窄條,然后窄條的外表面磨或削(避免過熱)到4.0~5.0mm厚,該厚度應在窄條的較厚部分測得,窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。
1.3試樣卷繞
每個試樣應在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形,并將兩端固定。
試棒直徑和卷繞圈數(shù)規(guī)定如下:
a)按1.2a)項制備的試樣、扁平電纜或軟線,表1規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數(shù)。試棒直徑應按其短軸尺寸選取,卷繞時使其短軸垂直于試棒。
表1
試樣外徑D/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數(shù)
D≤2.5 5 6
2.5<D≤4.5 9 6
4.5<D≤6.5 13 6
6.5<D≤9.5 19 4
9.5<D≤12.5 40 2
b)按1.2b)和1.2c)制備的試樣,表2規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數(shù)。在這種情況下,試樣的內表面應與試棒接觸。
表2
試樣厚度δ/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數(shù)
δ≤1 2 6
1<δ≤2 4 6
2<δ≤3 6 6
3<δ≤4 8 4
4<δ≤5 10 2
上述表格中,試樣直徑或試樣厚度應用游標卡尺或其他合適的測量工具進行測定。
1.4加熱和檢查
繞在試棒上的試樣應放入預熱到有關電纜產(chǎn)品標準規(guī)定試驗溫度的空氣烘箱中,如果電纜標準沒有規(guī)定,則預熱到(150±3)0C,試樣在規(guī)定溫度下保持1h。
加熱結束后從烘箱中取出試樣并在試樣達到近似環(huán)境溫度后,檢查仍在試棒上的試樣。
1.5試驗結果的評定
用正常視力或矯正后的視力而不用放大鏡進行檢查時,試樣應裂紋。
哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗裝置試驗方法
2、護套熱沖擊試驗
2.1取樣
每個被試護套應取兩根適當長度的電纜試樣,試樣取自兩處,間隔至少1m。若有外護層應除去。
2.2試樣制備
a)對于外徑不超過12.5mm的護套,每個試樣應是一段電纜,但聚乙烯絕緣、聚乙烯護套電纜除外。
b)對于外徑超過12.5mm,厚度不超過5.0mm的護套和聚乙烯絕緣電纜的護套,每個試樣應是取自護套上的窄條,其寬度至少是護套厚度的1.5倍,但不小于4mm,窄條應沿電纜的軸線方向切取。
c)對于外徑超過12.5mm,厚度超過5.0mm的護套,每個試樣應是按b)項規(guī)定切取的窄條,然后在窄條的外表面磨或削(避免過熱)到(4.0~5.0mm)厚,該厚度應在窄條的較厚部分測得,窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。
d)對于扁電纜,如果電纜的寬度不超過12.5mm,每個試樣應是一段完整的電纜。如果電纜寬度超過12.5mm,則每個試樣應是按b)規(guī)定從護套上切取的窄條。
2.3試樣卷繞
每個試樣應在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形,將兩端固定。
按2.2a)項制備的試樣,及2.2d)項寬度不超過12.5mm的扁平電纜,試棒的直徑和卷繞圈數(shù)應按照1.3a)項規(guī)定。試棒直徑應按電纜的短軸尺寸選取,卷繞時應使其短軸垂直于試棒。
按2.2a)和2.2c)項制備的試樣,及2.2d)項寬度超過12.5mm的扁平電纜,試棒直徑和卷繞圈數(shù)應按照1.3b)項規(guī)定。在這種情況下,試樣的內表面應與試棒接觸。
2.4加熱和檢查
按1.4的規(guī)定
2.5試驗結果的評定
按1.5的規(guī)定
用正常視力或矯正后的視力而不用放大鏡進行檢查時,試樣應裂紋 每個被試護套應取兩根適當長度的電纜試樣,試樣取自兩處,間隔至少1m;若有外護層應除去 對于外徑不超過12.5mm的護套,每個試樣應是一段電纜,但聚乙烯絕緣、聚乙烯護套電纜除外
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